Набор демонстрационный "Определение постоянной Планка". Лаборатория L-micro

Набор демонстрационный "Определение постоянной Планка" предназначен для определения длины волны излучения полупроводникового лазера и постоянной Планка.
Состав:
1. Платформа с полупроводниковым лазером и источником питания
2. Дифракционная решетка 150 штр./мм
3. Линейка с магнитами
Предлагаемые опыты:
1. Определение длины волны излучения полупроводникового лазера
2. Определение постоянной Планка
Набор состоит из платформы, на которой смонтированы полупроводниковый лазер и электрическая цепь, обеспечивающая плавную регулировку напряжения питания, дифракционной решетки и линейки, на которой производится регистрация дифракционного спектра. Платформа и линейка имеют магниты для закрепления их на вертикальной поверхности классной доски. Закрепление лазера и дифракционной решетки на платформе выполнено с использованием магнитов, что обеспечивает возможность настройки оптической схемы.
Для работы набора необходимы:
* Комплект цифровых измерителей тока и напряжений
* Комплект проводов
* Классная металлическая (магнитная) доска