Определение заряда электрона с помощью эффекта Шотки.
ФКЛ-14М-У (динамический режим работы, в комплекте с электронным осциллографом) |
|
|
Комплект лабораторных установок "Атомная и квантовая физика" ФКЛ |
Определение заряда электрона с помощью эффекта Шотки.
ФКЛ-14М (статический режим работы, без использования осциллографа)
|
|
|
Комплект лабораторных установок "Атомная и квантовая физика" ФКЛ |
Определение удельного заряда электрона методом магнетрона. ФКЛ-14 |
|
|
Комплект лабораторных установок "Атомная и квантовая физика" ФКЛ |
Определение работы выхода электронов из металла при помощи вольт-амперной характеристики вакуумного диода. ФКЛ-12 |
|
|
Комплект лабораторных установок "Атомная и квантовая физика" ФКЛ |
Изучение внешнего фотоэффекта. Законы Столетова для фотоэффекта. ФКЛ-11У
|
|
|
Комплект лабораторных установок "Атомная и квантовая физика" ФКЛ |
Изучение внешнего фотоэффекта и определение постоянной Планка при помощи вольт-амперной характеристики вакуумного фотоэлемента. ФКЛ-11М
МОДЕЛЬ ДЛЯ ЭКСПЛУАТАЦИИ БЕЗ МОНОХРОМАТОРА |
|
|
Комплект лабораторных установок "Атомная и квантовая физика" ФКЛ |
Изучение внешнего фотоэффекта и определение постоянной Планка при помощи вольт-амперной характеристики вакуумного фотоэлемента. ФКЛ-11 |
|
|
Комплект лабораторных установок "Атомная и квантовая физика" ФКЛ |
Изучение зависимости сопротивления полупроводника от температуры. Определение ширины запрещенной зоны полупроводника. ФКЛ-10 |
|
|
Комплект лабораторных установок "Атомная и квантовая физика" ФКЛ |
Изучение зависимости сопротивления металлов от температуры. Определение температурного коэффициента сопротивления металлов. ФКЛ-9
|
|
|
Комплект лабораторных установок "Атомная и квантовая физика" ФКЛ |
Изучение рассеяния электронов на атомах ксенона. Определение глубины и ширины потенциальной ямы с помощью эффекта Рамзауэра. ФКЛ-8У (необходим осциллограф) |
|
|
Комплект лабораторных установок "Атомная и квантовая физика" ФКЛ |